走査プラズモン干渉法によるCVDグラフェン粒界における電気的・プラズモニックな現象を可視化。AFMによる凹凸像では明確ではない粒界もプラズモンの散乱による定在波のため明瞭に存在を示している 引用先：Z. Fei et al., Nature Nanotechnology DOI: 10.1038/NNANO.2013.197
