neaSNOM ナノスケール(10nm~)での近接場測定を実現

ナノスケールのイメージング&分光測定が可能に!!
neaSNOMはシンプルで直感的な操作性を追求しながら、ナノスケールで微小異物を高感度で分析できる能力を合わせ持つ、SNOM(NSOM)型のイメージング・赤外分光装置(FT-IR)です。AFMユニット、チューナブルレーザー及び分光検出器部の構成からなり、独自の信号処理技術と組み合わせた近接場方式によってこれまでの回折限界だったサブミクロン以下の高空間分解能を実現します。プラズモンの表面伝搬状況や結晶性および半導体デバイス評価などのフォトニクス分野、さらに有機系ではポリマー多層膜や海島構造など幅広く適用しています。

neaSNOMが解決します

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