グラフェン上での高時間分解能測定
サンプル両側からレーザを照射できる「Dual Beamデザイン」を利用し、InAs上グラフェンを片側からNIRで励起し、もう一つのポートからプローブ光MIRを照射・検出。自由キャリアの励起、スペクトルの変化、キャリアのダイナミクスなど、高い時間分解能を持って観察することが可能です。
引用先：M. Wagner et al., Nano Lett. 14, 894 (2014)、M. Wagner et al., Nano Lett. 14, ASAP (2014)、M. Eisele et al., Nature Phot 8, 841 (2014)
